Dalam bidang pengukuran ultra-ketepatan dan pemasangan peralatan, ramai pembeli banyak menumpukan pada kerataan ketika memilih tapak granit, sambil mengabaikan kesan mendalam struktur butiran dalaman batu terhadap kelancaran akhir permukaan rujukan. Walaupun dengan prosedur pengisaran yang sama, granit berbutir kasar akan mengekalkan lubang sempadan butiran kecil selepas pemesinan. Walaupun kerataannya mungkin memenuhi spesifikasi, permukaan mikro kekal tidak sekata dan cenderung memerangkap habuk halus dan serpihan kasar. Ini menjejaskan kestabilan sentuhan prob, terutamanya di stesen pemeriksaan bersih dan aplikasi platform optik. ZHHIMG® memilih bahan mentah granit hitam berbutir halus dengan teliti. Digabungkan dengan proses pengisaran manual peringkat nano proprietari, kami mengeluarkan permukaan rujukan tapak dengan tekstur mikro yang seragam dan kelancaran yang sangat baik untuk memenuhi keperluan kualiti permukaan mikro yang ketat untuk peralatan ketepatan tinggi.
Saiz butiran batu menentukan had atas pemesinan permukaan rujukan bermula dari peringkat kosong. Granit berbutir kasar mempunyai kristal mineral dengan saiz yang sangat berbeza dan pelbagai antara muka ikatan antara kristal. Semasa pengisaran, kristal keras mudah tertanggal sepenuhnya dan meninggalkan lubang dan takuk kecil di permukaan. Kecacatan mikro sedemikian sukar dihapuskan tidak kira bagaimana penggilapan berikutnya dilakukan. Sebaliknya, granit berbutir halus mempunyai kristal kecil yang teragih sekata, mineral yang terikat rapat dan jurang yang minimum di sepanjang sempadan butiran. Dalam proses pemotongan dan pengisaran, bahan dibuang secara berperingkat tanpa percikan kristal yang besar. Granit kosong berbutir halus ZHHIMG® melalui pemilihan bijih yang ketat untuk menghapuskan kristal kasar, urat dan lapisan antara yang longgar, membasmi kecacatan semula jadi yang menjejaskan kelancaran permukaan pada sumbernya.
Kelancaran permukaan rujukan yang lebih tinggi secara langsung meningkatkan prestasi di bawah keadaan kerja pengukuran ketepatan. Permukaan rujukan dengan kelancaran unggul mempunyai mikro-alunan yang minimum dan menahan pengumpulan habuk, kesan minyak dan sisa pemesinan. Ia sangat sesuai untuk persekitaran bilik bersih dan mengurangkan penumpahan zarah yang mencemari bahan kerja. Apabila prob, elemen optik atau lekapan perkakas berada di atas permukaan rujukan, sentuhan menjadi lebih stabil. Titik sentuhan tidak akan terperangkap di dalam lubang sempadan butiran, mengurangkan hingar pengukuran rawak dan mengurangkan penyebaran data dalam pengukuran berulang. Untuk tapak galas udara granit, permukaan mikro yang licin juga meminimumkan kebocoran filem udara dan memastikan operasi platform terapung udara yang stabil — satu kelebihan yang sukar dicapai oleh tapak batu berbutir kasar.
Pemesinan batu berbutir halus mengenakan keperluan yang lebih tinggi terhadap teknik pengisaran dan pengalaman tukang. Kelicinan yang lebih tinggi tidak dapat dicapai hanya dengan melanjutkan tempoh penggilapan. ZHHIMG® menggaji juruteknik pengisaran dengan pengalaman amali selama beberapa dekad dan menerima pakai prosedur pengisaran berbilang peringkat progresif daripada pengisaran kasar, pengisaran separa kemasan hingga pengisaran ultra halus dengan saiz butiran kasar yang diperhalusi secara beransur-ansur. Penyingkiran bahan setiap laluan dikawal untuk mengelakkan kerosakan permukaan yang disebabkan oleh tekanan pengisaran. Sebelum pemesinan kemasan, semua tapak menjalani rawatan penuaan tekanan lengkap untuk melepaskan tekanan baki di dalam kosong. Ini menjamin bahawa permukaan rujukan kelicinan tinggi tidak akan berubah bentuk dari semasa ke semasa selepas pengisaran, mengimbangi ketepatan kerataan makro dan kualiti permukaan mikro. 
Selepas penyaringan dan pengisaran bahan mentah, ZHHIMG® menjalankan pemeriksaan kualiti permukaan khas untuk permukaan rujukan. Selain ujian kerataan dan kelurusan konvensional, kekasaran permukaan dinilai dan kecacatan mikro seperti lubang, calar dan lubang kristal diperiksa. Semua pemeriksaan diselesaikan dengan instrumen ketepatan yang dikalibrasi secara metrologi. Data yang diukur boleh dikesan kepada institusi metrologi yang berwibawa, dan laporan pemeriksaan dihantar bersama-sama dengan produk. Ramai pelanggan untuk makmal universiti, pangkalan peralatan semikonduktor, platform terapung udara optik dan pangkalan CMM menetapkan granit berbutir halus untuk kelancaran permukaan pasca pengisaran yang sangat baik, sesuai untuk senario metrologi dan eksperimen optik berketepatan tinggi.
Secara ringkasnya, kelebihan teras asas granit berbutir halus terletak pada struktur butiran mikro batu yang padat dan seragam. Digandingkan dengan teknologi pengisaran ultra halus yang matang daripada ZHHIMG®, permukaan rujukan dengan kelancaran unggul boleh diperolehi. Selain kehalusan visual, ia mengurangkan lekatan habuk, menstabilkan keadaan sentuhan dan mengurangkan bunyi pengukuran, menyediakan permukaan galas rujukan berkualiti tinggi untuk kedudukan ketepatan, pemeriksaan optik dan platform gerakan galas udara.
Masa siaran: 23-Sep-2026